De TSI Scanning Mobility Particle Spectrometer en Sizer (SMPS™ ) wordt wereldwijd veel gebruikt en gezien als de “Standaard” voor het meten van een deeltjesgrootte verdeling in een aerosol. Het systeem wordt ook toegepast bij het routinematig meten van nanodeeltjes welke zijn opgelost in vloeistof.
Het Amerikaanse National Institute of Standards and Technology (NIST) past de TSI Differential Mobility Analyzer techniek van de SMPS (DMA) toe bij de groottebepaling van 60 nm en 100 nm standaard referentie materiaal.
De deeltjesgrootte bepaling d.m.v. een SMPS spectrometer is een discrete meettechniek waarbij de Particle Number concentratie wordt bepaald zonder er bij voorbaat vanuit te gaan dat deze een bepaalde (Gaussian) vorm heeft. De SMPS techniek is onafhankelijk van de refractive index van het deeltje (particle) of vloeistof en kent een hoge mate van nauwkeurigheid (accuracy, afwijking < 1%) en herhalingsnauwkeurigheid (measurement repeatability).
Het nieuwe TSI model 3938 is de 3e generatie van de SMPS waarop reeds 30 jaar door researchers op wordt vertrouwd.
Voor meer informatie zie: smps_3938