Op Analytica heeft Bruker de nieuwe generatie silicon drift detectoren (SDD) voor energy dispersive X-ray spectrometrie op Elektronen microscopen voor het eerst getoond aan het publiek.
Met een detectoroppervlakte tot maar liefst 100mm², een energieresolutie tot 121eV en een pulse throughput tot 600 kcps zet de XFlash®6 een nieuwe standaard voor snelheid en gevoeligheid in de EDS analyse. Daarom is de XFlash®6 buitengewoon krachtig voor toepassingen in nano-technologie en nano-onderzoek.
De XFlash®6 detectorfamilie bestaat uit een ruime keus van detectormaten, variërend van 10mm² tot 100mm² om u te kunnen bedienen van een detector die optimaal geschikt is voor uw applicatie op willekeurig welk type elektronenmicroscoop. Dankzij het innovatieve Slim-line ontwerp biedt de XFlash®6 detectorfamilie de grootste solid angle per actief gebied voor een maximale acquisitie efficiëntie, wat vooral belangrijk is bij lage bundelstromen.
Gecombineerd met de unieke en zeer geavanceerde hybride pulsprocessor kunnen de XFlash®6 detectoren een input count rate halen van meer dan 1.500kcps met een throughput tot 600kcps en behoud van de beste energieresolutie. Met de nieuwe detectoren heeft Bruker een nieuwe grens gelegd op het gebied van energieresolutie van EDX detecoren. De Premium XFlash®6/10 haalt de ongeëvenaarde 121eV bij Mn Kα en 38eV bij C Kα dat van zeer groot belang is voor een efficiënte en nauwkeurige analyse bij lage energieën.
De XFlash®6 gebruiker kan kiezen uit zes verschillende modellen detectoren om de optimale oplossing te vinden voor elke individuele toepassing, ongeacht er met een SEM, FIB-SEM, μ-sonde of TEM gewerkt wordt. De 10 mm² XFlash ® 6/10 en de 30 mm² XFlash ® 6/30 detectoren zijn zeer geschikt voor de meeste taken op een SEM, inclusief analyse aan hoge bundelstromen, lage versnelspanningen en een laag vacuüm. De 60 mm² XFlash ® 6/60 en de 100 mm² XFlash ® 6/100 zijn bijzonder bruikbaar bij een lage X-ray opbrengst in situaties waar een lage- bundelstroom en -versnelspanning nodig zijn voor bijvoorbeeld onderzoek van nanostructuren of analyse van bundel-gevoelige biologische monsters. De twee detector modellen voor transmissie-elektronenmicroscopie, de 30 mm² XFlash ® 6T/30 en de 60 mm² XFlash ® 6T/60, zijn ontworpen om minimale mechanische en elektromagnetische interferentie te veroorzaken op de TEM kolom, en garandeert de beste take-off angle.