Fijnstof meten

TSI Incorporated helpt een wereldwijde markt bij het onderzoeken, identificeren en oplossen van problemen bij het fijnstof meten c.q. nanodeeltjes metingen. Dit kan fijnstof zijn in lucht, aerosol of stromingen. Als marktleider in het ontwerp en de productie van precisie meetinstrumenten werkt TSI samen met onderzoeksinstellingen en klanten over de hele wereld om de norm te stellen voor metingen met betrekking tot fijnstof meten, nanodeeltjes classificatie (sizing), aerosol wetenschap, luchtstroming, luchtkwaliteit in gebouwen, vloeistofdynamica en bio-gevaar detectie. Met het hoofdkantoor gevestigd in de VS, en kantoren verspreid over Europa en Azië, is TSI wereldwijd aanwezig in de markt.
De Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS) is de wereldstandaard voor het bepalen van een deeltjes distributie en fijnstof meten. Dit kan tegenwoordig, met behulp van de Nano Enhancer, vanaf een deeltjesgrootte van 1 nm. Neem geheel vrijblijvend contact met ons op voor meer informatie omtrent deze instrumenten of meettechniek op basis van electrical mobility (SMPS), licht scattering (OPS) of time of flight (APS).

Interessante en informatieve filmpjes over fijnstof meten, deeltjes meten en UFP-meting zijn te vinden op:
fijnstof_meten
wat_is_ultrafijn_stof

Bovenstaande filmpjes illustreren dat fijnstof bestaat uit zeer kleine vaste deeltjes die in de lucht zweven. Sommige deeltjes komen van nature in de lucht voor, anderen komen van menselijke activiteiten. Fijnstofdeeltjes komen voor in verschillende maten, vormen en samenstellingen. Ook verschilt het effect dat de deeltjes op mensen hebben wanneer wij ze bijvoorbeeld inademen. In deze filmpjes wordt uitleg over fijnstof gegeven en wordt getoond hoe fijnstof is te meten. Voor elk formaat deeltje (size) is er een passende meetoplossing van TSI, van 1 nm. tot 1 mm.

TSI
j.j. bos b.v. vertegenwoordigt TSI sinds 1972 en is  erkend als TSI Gold Sales business partner voor de Benelux:

Gold_Logo_ZonderJaar

Laatste nieuws

  • Nanoparticles seminar

    Seminar2
    j.j. bos b.v. is proud to announce that this year we are hosting a 1-day course on nanoparticles theory. This is an unique opportunity to grow your knowledge on nanoparticles […]
    Meer lezen
  • Nanoparticle detectie vanaf 1 nm.

    Nanoparticle detection
    In dit bericht introduceren we de 1 nm. Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS) van TSI, een uniek laboratorium instrument voor het classificeren van nanodeeltjes of het monitoren van fijnstof.
    Meer lezen

Link

TSI Inc. logo

Informatie aanvragen

Meer informatie aanvragen? Stel uw vraag of vul uw gegevens hieronder in.

Uw naam (verplicht)

Uw email (verplicht)

Uw telefoonnummer

Uw onderwerp (verplicht)

Gelieve dit veld leeg te laten.

Uw bericht