Aerosol & Stroming

Nanoparticles seminar

j.j. bos b.v. is proud to announce that this year we are hosting a 1-day course on nanoparticles theory. This is an unique opportunity to grow your knowledge on nanoparticles behaviour and analysis. This course will be presented by Dr Paul Williams from Manchester University and Dr Torsten Tritscher from TSI GmbH.  

Nanoparticle detectie vanaf 1 nm.

In dit bericht introduceren we de 1 nm. Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS) van TSI, een uniek laboratorium instrument voor het classificeren van nanodeeltjes of het monitoren van fijnstof.  

TSI Nanoparticle emissie tester

j.j. bos b.v. is een partner van TSI in de Benelux sinds 1972. Daarom kunnen we u hierbij informeren over de laatste ontwikkeling die TSI kan leveren op het gebied van emissie meting bij verbrandingsmotoren, de NPET ofwel Nanoparticle emission tester. Lees rest artikel in het Engels:  

Optisch deeltjes tellen en sizen met de TSI OPS

Waarom nog langer alleen de deeltjes tellen als hiervan 'voor hetzelfde geld' ook de grootte bepaald kan worden. TSI introduceert met Opticle Particle Sizer model 3330 een uniek, portable instrument waarmee niet alleen de particles geteld- maar ook op grootte gekwalificeerd kunnen worden. Bel of mail ons voor meer informatie of een demonstratie.  

Phase Doppler Particle Analysis

Phase Doppler Particle Analysis (PDPA) systemen werken op basis van het principe van lichtreflectie interferentie. De PDPA metingen worden uitgevoerd in het snijpunt van 2 laserstralen, waarin een interferentiepatroon ontstaat. Zie hiervoor ook LDV. Indien een individueel deeltje dit snijpunt doorkruist, dan wordt interferentiepatroon gereflecteerd en geprojecteerd op een strategisch geplaatste ontvanger met meerdere sensoren daarin opgenomen. Elk van deze sensoren detecteert een signaal dat in fase is verschoven ten opzicht van het signaal dat de andere sensoren registreren. Deze faseverschuiving is direct gerelateerd aan de grootte van het reflecterende deeltje.  

Laser Doppler Velocimetry

Laser Doppler Velocimetry (LDV) is een bewezen nauwkeurige techniek voor het meten van snelheden in gas- of vloeistofstromingen. Laserstralen belichten de stroming en reflecties van individuele deeltjes in de stroming worden gedetecteerd en verwerkt. Een enkele laserbundel wordt hiertoe in twee stralen gesplitst met gelijke intensiteit en gefocuseerd in een gemeenschappelijk punt in de stroming. Een interferentiepatroon wordt gevormd in het snijpunt van de 2 bundels, hetgeen het meetvolume definieert. Het interferentiepatroon is een traliepatroon van licht en donkere secties. De tralies hebben, uitgaande van een vaste optische configuratie en bij gelijkblijvende golflengte van het laserlicht, een vaste en bekende breedte. Deeltjes, welke zich door het meetvolume heen bewegen, reflecteren licht in varierende intensiteit, dat wordt gedetecteerd met een lichtgevoelige sensor.  

Hot Wire Anemometry

Hittedraad anemometers meten de snelheid van vloeistoffen of gassen door veranderingen van temperatuur te detecteren in een kleine draad of film, welke elektrisch wordt verwarmd en op een constante temperatuur wordt gehouden. De draad of film wordt in de te bestuderen stroming geplaatst en het koeleffect van de stroming wordt gecompenseerd door de stroom door de draad of film aan te passen. De stroom is dus functie van het koeleffect en derhalve van de snelheid van de stroming.  

TSI Particle Counters

TSI heeft een volledige programma aan Condensation Particle Counters en heeft nu maar liefst 7 CPC’s in het programma, waarvan 5 stuks butanol- en 2 stuks water gebaseerd. Of u nu een draagbare, batterij gevoed systeem nodig heeft, ultrafijne deeltjes detectie (vanaf 2.5 nm!) of detectie tot aan 107  deeltjes/cm3, TSI heeft de juiste CPC voor uw toepassing. Onder de nieuwe eigenschappen en mogelijkheden behoren:  

TSI 3e generatie SMPS, model 3938

De TSI Scanning Mobility Particle Spectrometer en Sizer (SMPS™ ) wordt wereldwijd veel gebruikt en gezien als de "Standaard" voor het meten van een deeltjesgrootte verdeling in een aerosol.  Het systeem wordt ook toegepast bij het routinematig meten van nanodeeltjes welke zijn opgelost in vloeistof. Het Amerikaanse National Institute of Standards and Technology (NIST) past de TSI Differential Mobility Analyzer techniek van de SMPS (DMA) toe bij de groottebepaling van 60 nm en 100 nm standaard referentie materiaal. De deeltjesgrootte bepaling d.m.v. een  SMPS spectrometer is een discrete meettechniek  waarbij de Particle Number concentratie wordt bepaald zonder er bij voorbaat vanuit te gaan dat deze een bepaalde (Gaussian) vorm heeft.  De SMPS techniek is onafhankelijk van de refractive index van het deeltje (particle) of vloeistof en kent een hoge mate van nauwkeurigheid (accuracy, afwijking < 1%)  en herhalingsnauwkeurigheid (measurement repeatability). Het nieuwe TSI model 3938 is de 3e generatie van de SMPS waarop reeds 30 jaar door researchers op wordt vertrouwd.  

TSI NanoScan

TSI introduceert de NanoScan Particle sizer & counter, model 3910. De TSI NanoScan SMPS maakt seriematige metingen van de deeltjesgrootte van nanoparticles in de range van 10nm. – 10µm. mogelijk. Deze revolutionaire deeltjesgrootte sizer -met de mogelijkheden van een volwaardige TSI SMPS Spectrometer- heeft de afmetingen van een basketbal, is batterij gevoed en is makkelijk draagbaar. De NanoScan SMPS stelt onderzoekers in staat om waardevolle nanoparticle deeltjesgrootte informatie van verschillende locaties te verzamelen. Door de batterijvoeding en ingebouwde pomp zijn autonome metingen en data opslag voor langere tijd mogelijk.  

Informatie aanvragen

Meer informatie aanvragen? Stel uw vraag of vul uw gegevens hieronder in.

Uw naam (verplicht)

Uw email (verplicht)

Uw telefoonnummer

Uw onderwerp (verplicht)

Gelieve dit veld leeg te laten.

Uw bericht