Welkom bij j.j. bos b.v.

j.j. bos b.v. zal zich presenteren op de eerste keer dat door het Mikrocentrum de vakbeurs "Materials 2013" georganiseerd wordt.
Deze beurs wordt op 4 en 5 juni a.s. gehouden in het NH Conference Centre Koningshof te Veldhoven  (NL).

j.j. bos b.v. heeft hier standnummer 37 gereserveerd en kunnen u daar informeren of  live demonstreren:

- MTS 'Criterion' Elektro Mechanisch testframe inclusief de nieuwe TestSuite besturingssoftware 
- MTS 'Acumen' high frequency material test systems
- MARK-10 testframes tot 2.5 kN (demo aanwezig)
- MARK-10 Torque- en Krachtopnemers (demo aanwezig)
- Tescan Elektronen Microscopen
- Bruker EDX analyse systemen
- Quorum sample preparatie apparatuur
- m+p Intl. Shaker besturing
- LAB shock- en valtesters

- MacroSensors LVDT's

- Vishay Measurement Group rekstrookjes en meetapparatuur
Registreer u gratis via bijgevoegde link: Registratie
 

Voor toepassing in aandrijflijnen heeft Manner GmbH een compacte torsie meetflens met geïntegreerde overbelastingsbeveiliging ontwikkeld. De beveiliging kan een overbelasting van 100% aan.

Beschadiging van de torsie opnemer, bijv. bij het blokkeren van de aandrijflijn, wordt daarmee voorkomen.

Een andere toepassing ligt bijv. bij het meten van kleine torsie waarden in een verder overgedimensioneerd systeem. Grote uitbreekmomenten zijn dan geen probleem meer: Lees volledige artikel

Bruker heeft er weer een nieuw product bij; de Micro-CT voor de SEM, het eenvoudigste 3D beeld acquisitie en analysesysteem voor scanning elektronenmicroscopen. Dit systeem past op iedere SEM met een vrije poort vanaf 65 mm. Het genereert en analyseert 2D of 3D beelden (interne structuren ofwel de morfologie) van SEM samples. Dit systeem kan details zichtbaar maken tot een grootte van 400nm. De sample grootte varieert van 0,18 – 4 mm. scanning diameter en maximaal 10 mm.